Atıf Formatları
Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği
  • IEEE
  • ACM
  • APA
  • Chicago
  • MLA
  • Harvard
  • BibTeX

A. İ. DEMİREL Et Al. , "Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği," TFD.19.Fizik Kongresi, , Elazığ, Turkey, pp.200, 2000

DEMİREL, A. İ. Et Al. 2000. Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği. TFD.19.Fizik Kongresi, , (Elazığ, Turkey), 200.

DEMİREL, A. İ., Yılmaz, R., & ÖZDURAN, M., (2000). Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği . TFD.19.Fizik Kongresi, (pp.200). Elazığ, Turkey

DEMİREL, Ali, Rafet Yılmaz, And Mustafa ÖZDURAN. "Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği," TFD.19.Fizik Kongresi,, Elazığ, Turkey, 2000

DEMİREL, Ali İ. Et Al. "Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği." TFD.19.Fizik Kongresi, , Elazığ, Turkey, pp.200, 2000

DEMİREL, A. İ. Yılmaz, R. And ÖZDURAN, M. (2000) . "Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği." TFD.19.Fizik Kongresi, , Elazığ, Turkey, p.200.

@conferencepaper{conferencepaper, author={Ali İhsan DEMİREL Et Al. }, title={Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği}, congress name={TFD.19.Fizik Kongresi,}, city={Elazığ}, country={Turkey}, year={2000}, pages={200} }