Dependence of thermal annealing on the density distribution of interface states in Ti/n-GaAs(Te) Schottky diodes

Ayyildiz E., Bati B., Temirci C., Türüt A.

Applied Surface Science, cilt.152, sa.1, ss.57-62, 1999 (SCI-Expanded) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 152 Sayı: 1
  • Basım Tarihi: 1999
  • Doi Numarası: 10.1016/s0169-4332(99)00301-3
  • Dergi Adı: Applied Surface Science
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.57-62
  • Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi Adresli: Hayır