Behaviour of Electrical Capacitance and Depletion Layer of (Ag, Cu, Ni)/n-Si/Al Schottky Diodes by Ohmic Temperatures

Korkut A., İmer A. G.

2'nd International Congress on the World of Technology and Advanced Materials, Kırşehir, Türkiye, 28 Eylül - 02 Ekim 2016, ss.57

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Kırşehir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.57
  • Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi Adresli: Evet