Behaviour of Electrical Capacitance and Depletion Layer of (Ag, Cu, Ni)/n-Si/Al Schottky Diodes by Ohmic Temperatures
2'nd International Congress on the World of Technology and Advanced Materials, Kırşehir, Türkiye, 28 Eylül - 02 Ekim 2016, ss.57, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Şehir: Kırşehir
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.57
- Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi Adresli: Evet