Atıf İçin Kopyala
Gencer Imer A., YERCİ S., Alagoz A., Kulakci M., Serincan U., Finstad T., ...Daha Fazla
Journal of Nanoscience and Nanotechnology, cilt.10, sa.1, ss.525-531, 2010 (SCI-Expanded)
-
Yayın Türü:
Makale / Tam Makale
-
Cilt numarası:
10
Sayı:
1
-
Basım Tarihi:
2010
-
Doi Numarası:
10.1166/jnn.2010.1728
-
Dergi Adı:
Journal of Nanoscience and Nanotechnology
-
Derginin Tarandığı İndeksler:
Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
-
Sayfa Sayıları:
ss.525-531
-
Anahtar Kelimeler:
Si, Ge, SiO2, SiOx, Nanocrystals, Ion Implantation, Magnetron Sputtering, FTIR, TEM, AMORPHOUS-SILICON DIOXIDE, SIO2-FILMS, MATRIX, SPECTROSCOPY, PHOTOELECTRON, STATES, LAYERS, FILMS
-
Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi Adresli:
Hayır