Structural characterization of Si1-xCx/SiC multilayer cosputtered films, evidence of the formation of Si nanocrytals in an amorphous matrix

İmer A. G., yıldız i., Turan R.

Europian Material Research Society (EMRS) Spring Meeting, Strazburg, Fransa, 14 - 18 Mayıs 2012, ss.20

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Strazburg
  • Basıldığı Ülke: Fransa
  • Sayfa Sayıları: ss.20
  • Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi Adresli: Evet