Süper iletken Flimlerin Karekterize Edilmesinde Ölçüm Tekniği
TFD.19.Fizik Kongresi,, Elazığ, Türkiye, 26 Eylül 2000, ss.200, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Elazığ
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.200
- Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi Adresli: Evet