Investigation of Surface Topography of GaTe and GaTe:CdSemiconductors using Atomic Force Microscopy

ŞATA M., kARATAŞ S., ERZENEOĞLU S. Z., TURGUT G., GÜRBULAK B.

International Conference onPhysical Chemistry and Functional Materials, Elazığ, Türkiye, 19 - 21 Haziran 2018

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Elazığ
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi Adresli: Hayır